
FT/IR-8X, mükemmel sinyal-gürültü oranı (55.000:1) ve en yüksek çözünürlük (0,07 cm⁻¹) değerleriyle JASCO'nun bugüne kadarki en gelişmiş FTIR spektrometresidir.
Son derece esnek yapılandırılabilir optik sistemi; basit Orta IR ölçümlerinden, yakın ve uzak IR bölgelerindeki çok daha karmaşık analizlere kadar hemen hemen her türlü FTIR uygulamasına uyarlanabilir. 8X; emisyon portu optikleri, harici dedektörler, tam vakum ve adım tarama (step scan) gibi seçeneklerle en zorlu uygulamalarda dahi güvenilir ölçümler yapılmasına olanak tanır.
Kullanıcı tarafından değiştirilebilir bileşenlerin tam otomasyonla birleşimi, sisteme fiziksel müdahalede bulunmaksızın 25.000 cm⁻¹ ile 20 cm⁻¹'den daha düşük dalga sayıları aralığında spektral ölçümler yapılabilmesini mümkün kılar.
Çoklu Dedektör
Kullanıcı tarafından değiştirilebilir ışın bölücüler ve pencereler
Genişletilebilir Dalga Boyu Aralığı
Standart spektrometre; 7.800 ila 350 cm⁻¹ spektral aralık için KRS-5 pencereli bir Ge/KBr ışın bölücü ve (yine KRS-5 pencereli) bir DLaTGS dedektörü kullanır. 25.000 ila 20 cm⁻¹ arasındaki spektral aralığın bir kısmını veya tamamını seçmeye olanak tanıyan geniş bir seçenek yelpazesi mevcuttur; buna, operatör müdahalesi gerektirmeyen çalışma için tam otomatik ışın bölücü ve pencere değişimi de dahildir. En geniş optik malzeme seçenekleri sayesinde; orta-IR'den uzak-IR'ye kadar uzanan aralığı kapsayan yeni geniş bantlı ışın bölücü, pencere ve dedektör malzemeleri kombinasyonları kullanılarak, minimum sayıda bileşenle geniş bir spektral aralık kapsanabilir.
Azot Süpürme (Purge) ve Vakumlama
Çevresel gaz ve buharlardan kaynaklanan etkileşimi en aza indirmek amacıyla standart olarak çok bölgeli bir N2 süpürme sistemi sunulmaktadır (CO2 ve H2O giderim algoritmaları da sisteme dahildir). En hassas numune ölçümleri için CO2 ve H2O'yu tamamen ortadan kaldırmak amacıyla; tam veya kısmi vakumlu bir cihazda interferometre, numune haznesi ve dedektör bölgelerinin tümü birbirinden bağımsız olarak vakumlanabilir (bu özellik hızlı numune yükleme için de faydalıdır). Ayrıca, hareketli ayna hava yatağına (air-bearing) dayanmadığından, vakum kolaylıkla korunabilir.
Emisyon Portları ile Harici Işık Ölçümü ve Karakterizasyonu
FT/IR-8X; harici ışık kaynaklarının ve kara cisim cihazlarının ölçümü için çeşitli pencere malzemesi seçeneklerine sahip optik port opsiyonları sunar. Harici numune bölmelerinde ölçüm yapılabilmesi amacıyla, cihazdan kolime edilmiş bir ışın çıkışı sağlanabilir.
Hızlı Tarama (Rapid Scan) ve Adımlı Tarama (Step Scan)
Hızlı Tarama, 40 Hz'e kadar spektral veri toplama imkanı sunar. FT/IR-8X için bir seçenek olan Adımlı Tarama ise, uyumlu yüksek hızlı pv-MCT dedektörlerle birlikte kullanıldığında; Genlik veya Faz modülasyonu ile 1 milisaniye (1.000 Hz) veya 10 nanosaniye (100 MHz) hızlarında ve foto-akustik algılama ile Zamana Bağlı (Time-Resolved) analiz yöntemleriyle iki farklı spektral veri toplama hızı sağlar.
Sistem Özellikleri
Altın kaplama optikler
Yüksek çıkışlı seramik kaynak, Ge/KBr ışın bölücü ve DLaTGS dedektör
HeNe zamanlama lazeri
Siyah cisim ölçümü, harici ışık karakterizasyonu vb. için emisyon portu optikleri
IQX aksesuar tanıma özellikli geniş bir numune alma aksesuarı yelpazesi
Titreşime dayanıklı optik tabla
Geniş numune bölmesi
Enerji iletimini optimize etmek için otomatik hizalama özelliğine sahip retro-reflektör aynalar
Gaz süpürme (purge) ve vakum uygulanabilir numune bölmesi ve optik tabla
Fotodiyot, DLaTGS, InGaAs, InSb, MCT ve He soğutmalı Bolometre gibi çeşitli dedektörler
Manuel veya otomatik değiştirme imkanı sunan çeşitli ışın bölücü malzemeleri
Hem mikro hem de makro ölçümler için isteğe bağlı FTIR mikroskopisi ve IR Görüntüleme
Hızlı tarama ve adım adım tarama (mikrosaniye veya nanosaniye)
Dalga sayısı genişletme seçenekleri (25.000 ila 10 cm⁻¹)
Titreşimsel Dairesel Dikroizm (VCD) seçeneği

