FTIR-8X FTIR Spektrometre Cihazı

JASCO Spektroskopi Sistemleri


FT/IR-8X, mükemmel sinyal-gürültü oranı (55.000:1) ve en yüksek çözünürlük (0,07 cm⁻¹) değerleriyle JASCO'nun bugüne kadarki en gelişmiş FTIR spektrometresidir.

Son derece esnek yapılandırılabilir optik sistemi; basit Orta IR ölçümlerinden, yakın ve uzak IR bölgelerindeki çok daha karmaşık analizlere kadar hemen hemen her türlü FTIR uygulamasına uyarlanabilir. 8X; emisyon portu optikleri, harici dedektörler, tam vakum ve adım tarama (step scan) gibi seçeneklerle en zorlu uygulamalarda dahi güvenilir ölçümler yapılmasına olanak tanır.

Kullanıcı tarafından değiştirilebilir bileşenlerin tam otomasyonla birleşimi, sisteme fiziksel müdahalede bulunmaksızın 25.000 cm⁻¹ ile 20 cm⁻¹'den daha düşük dalga sayıları aralığında spektral ölçümler yapılabilmesini mümkün kılar.

Çoklu Dedektör

Kullanıcı tarafından değiştirilebilir ışın bölücüler ve pencereler

Genişletilebilir Dalga Boyu Aralığı

Standart spektrometre; 7.800 ila 350 cm⁻¹ spektral aralık için KRS-5 pencereli bir Ge/KBr ışın bölücü ve (yine KRS-5 pencereli) bir DLaTGS dedektörü kullanır. 25.000 ila 20 cm⁻¹ arasındaki spektral aralığın bir kısmını veya tamamını seçmeye olanak tanıyan geniş bir seçenek yelpazesi mevcuttur; buna, operatör müdahalesi gerektirmeyen çalışma için tam otomatik ışın bölücü ve pencere değişimi de dahildir. En geniş optik malzeme seçenekleri sayesinde; orta-IR'den uzak-IR'ye kadar uzanan aralığı kapsayan yeni geniş bantlı ışın bölücü, pencere ve dedektör malzemeleri kombinasyonları kullanılarak, minimum sayıda bileşenle geniş bir spektral aralık kapsanabilir.

Azot Süpürme (Purge) ve Vakumlama

Çevresel gaz ve buharlardan kaynaklanan etkileşimi en aza indirmek amacıyla standart olarak çok bölgeli bir N2 süpürme sistemi sunulmaktadır (CO2 ve H2O giderim algoritmaları da sisteme dahildir). En hassas numune ölçümleri için CO2 ve H2O'yu tamamen ortadan kaldırmak amacıyla; tam veya kısmi vakumlu bir cihazda interferometre, numune haznesi ve dedektör bölgelerinin tümü birbirinden bağımsız olarak vakumlanabilir (bu özellik hızlı numune yükleme için de faydalıdır). Ayrıca, hareketli ayna hava yatağına (air-bearing) dayanmadığından, vakum kolaylıkla korunabilir.

Emisyon Portları ile Harici Işık Ölçümü ve Karakterizasyonu

FT/IR-8X; harici ışık kaynaklarının ve kara cisim cihazlarının ölçümü için çeşitli pencere malzemesi seçeneklerine sahip optik port opsiyonları sunar. Harici numune bölmelerinde ölçüm yapılabilmesi amacıyla, cihazdan kolime edilmiş bir ışın çıkışı sağlanabilir.

Hızlı Tarama (Rapid Scan) ve Adımlı Tarama (Step Scan)

Hızlı Tarama, 40 Hz'e kadar spektral veri toplama imkanı sunar. FT/IR-8X için bir seçenek olan Adımlı Tarama ise, uyumlu yüksek hızlı pv-MCT dedektörlerle birlikte kullanıldığında; Genlik veya Faz modülasyonu ile 1 milisaniye (1.000 Hz) veya 10 nanosaniye (100 MHz) hızlarında ve foto-akustik algılama ile Zamana Bağlı (Time-Resolved) analiz yöntemleriyle iki farklı spektral veri toplama hızı sağlar.

Sistem Özellikleri

  • Altın kaplama optikler

  • Yüksek çıkışlı seramik kaynak, Ge/KBr ışın bölücü ve DLaTGS dedektör

  • HeNe zamanlama lazeri

  • Siyah cisim ölçümü, harici ışık karakterizasyonu vb. için emisyon portu optikleri

  • IQX aksesuar tanıma özellikli geniş bir numune alma aksesuarı yelpazesi

  • Titreşime dayanıklı optik tabla

  • Geniş numune bölmesi

  • Enerji iletimini optimize etmek için otomatik hizalama özelliğine sahip retro-reflektör aynalar

  • Gaz süpürme (purge) ve vakum uygulanabilir numune bölmesi ve optik tabla

  • Fotodiyot, DLaTGS, InGaAs, InSb, MCT ve He soğutmalı Bolometre gibi çeşitli dedektörler

  • Manuel veya otomatik değiştirme imkanı sunan çeşitli ışın bölücü malzemeleri

  • Hem mikro hem de makro ölçümler için isteğe bağlı FTIR mikroskopisi ve IR Görüntüleme

  • Hızlı tarama ve adım adım tarama (mikrosaniye veya nanosaniye)

  • Dalga sayısı genişletme seçenekleri (25.000 ila 10 cm⁻¹)

  • Titreşimsel Dairesel Dikroizm (VCD) seçeneği

Teknik Özellikler

FT/IR-8X Model Detayları

Parametre Değer / Açıklama
Model FT/IR-8X
Standart Dalga Sayısı Ölçüm Aralığı 7.800 ile 350 cm⁻¹ arası
Opsiyonel Genişletilmiş Ölçüm Aralığı 25.000 ile 20 cm⁻¹ arası
Çözünürlük 0.07, 0.25, 0.5, 1.0, 2, 4, 8, 16 cm⁻¹
Numune Bölmesi Boyutu ve Işık Yolu Boyut: 200 (G) × 260 (D) × 185 (Y) mm
Işık yolu: Merkez odaklı, ışık ekseni 70 mm yükseklikte
İnterferometre 28º Michelson interferometre
Köşe küp (Corner-cube) aynalı, sızdırmaz yapılı (KRS-5 pencere, opsiyonel pencere seçenekleri), otomatik hizalamalı, DSP kontrollü, altın ayna kaplamalı
Ayna Kaplaması Altın (Au)
N2 Süpürme ve Vakum Sistemleri Numune / Detektör Bölmesi
İnterferometre için Tam Vakum (Opsiyonel)
Sürücü Yöntemi Mekanik rulmanlı, elektromanyetik sürücü
Hızlı Tarama (Rapid Scan) 40 spektrum/sn (16 cm⁻¹ çözünürlükte)
Adım Taraması (Step Scan) 5 msn (opsiyonel: 10 nsn)
Işın Bölücü (Beam Splitter) Standart: Ge/KBr
Opsiyon: Geniş bant Kuvars, Si/CaF2, Geniş bant KBr, Geniş bant Mylar, Orta-Uzak IR geniş bant (değiştirilebilir, opsiyonel otomatik ışın bölücü değiştirici mevcuttur)
Işık Kaynağı Standart: Yüksek yoğunluklu seramik kaynak
Opsiyon: Halojen lamba (sadece fabrika çıkışlı opsiyon)
Standart Detektör DLaTGS (Peltier sıcaklık kontrollü)
Opsiyonel Detektörler MCT-N, MCT-M, MCT-W, MCT-PV, Si fotodiyot (görünür, yakın IR), InSb, InGaAs, DLATGS (PE pencereli), Geniş bant DLATGS, Si bolometre ve mikro ölçüm için DLATGS.
Ana ünite içine en fazla 2 detektör monte edilebilir; 3'ten fazla detektör kullanıldığında harici detektör ünitesi uygulanmalıdır (PC üzerinden geçişli).
Sinyal-Gürültü Oranı (S/N) 55.000:1 (4 cm⁻¹, 1 dk, ~2.200 cm⁻¹ yakınında)
Kazanç Anahtarlama (Gain Switching) Otomatik, 1, 2, 4, 8, 16, 32, 64, 128
İletişim / Bağlantı USB 2.0
Boyutlar ve Ağırlık FT/IR-8X Purge Modeli: 600 (G) × 690 (D) × 315 (Y) mm, 56 kg
FT/IR-8X V İnterferometre Vakum Modeli: 600 (G) × 690 (D) × 315 (Y) mm, 58 kg
FT/IR-8X FV Tam Vakum Modeli: 600 (G) × 700 (D) × 355 (Y) mm, 70 kg
Güç Kaynağı Ünitesi: 85 (G) × 260 (D) × 197 (Y) mm, 4.7 kg